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適用于光學(xué)薄膜和透明涂膜檢測的光譜干涉測厚儀TOF-S介紹
適用于光學(xué)薄膜和透明涂膜檢測的光譜干涉測厚儀TOF-S介紹
產(chǎn)品特點(diǎn)
實現(xiàn)高測量重復(fù)性（± 0.01 μm 或更小，取決于對象和測量條件）
不易受溫度變化的影響
可以制造用于研究和檢查的離線型和制造過程中使用的在線型。
反射型允許從薄膜的一側(cè)測量
只能測量透明涂膜層（取決于測量條件）
產(chǎn)品規(guī)格
| 測量厚度 | 1 至 50 μm（用于薄材料）、10 至 150 μm（用于厚材料） |
|---|---|
| 測量長度 | 50-5000 毫米 |
| 測量間距 | 1 毫米 ~ |
| 最小顯示值 | 0.001 微米 |
| 電源電壓 | AC100 伏 50/60 赫茲 |
| 工作溫度限制 | 5～45℃（測量時溫度變化在1℃以內(nèi)） |
| 濕度 | 35-80%（無冷凝） |
| 測量區(qū)域 | φ0.6毫米 |
| 測量間隙 | 約 30 毫米 |
產(chǎn)品目錄
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