用于鋰電池隔膜紙質(zhì)量控制和檢驗(yàn)的測(cè)厚儀

離線(xiàn)式測(cè)厚儀是一種臺(tái)式緊湊型測(cè)厚儀。將薄膜或薄片切成條狀并進(jìn)行測(cè)量。由于在自動(dòng)輸送的同時(shí)進(jìn)行測(cè)量，任何人都可以輕松快速地進(jìn)行測(cè)量，并且不受測(cè)量者技能的影響是一大特點(diǎn)。
它常用于質(zhì)量控制部門(mén)和研發(fā)應(yīng)用。另外，由于測(cè)得的圖形可以呈環(huán)形顯示，因此常用于充氣膜的生產(chǎn)現(xiàn)場(chǎng)。

型號(hào)：TOF-4R05

測(cè)量方法

線(xiàn)規(guī)/捏法

測(cè)量對(duì)象薄膜、片材測(cè)量厚度0.03 至 3 毫米

型號(hào)：TOF-5R01

測(cè)量方法

線(xiàn)規(guī)

測(cè)量對(duì)象電影測(cè)量厚度0.02-0.2毫米

型號(hào)：TOF-6R001

測(cè)量方法

線(xiàn)規(guī)

測(cè)量對(duì)象薄膜高精度塑料薄膜（聚酰亞胺薄膜、光學(xué)薄膜等）測(cè)量厚度5-100微米

型號(hào)：TOF-C2 * TOF-C的后繼型號(hào)

測(cè)量方法非接觸式

電容式

測(cè)量對(duì)象薄膜、粘性保護(hù)膜、易沾灰塵的薄膜測(cè)量厚度~ 500 微米

型號(hào)：TOF-S

測(cè)量方法非接觸式

光譜干涉儀

測(cè)量對(duì)象電子和光學(xué)用透明平滑膜、多層膜測(cè)量厚度1 至 50 μm（用于薄材料）

10 至 150 μm（用于厚材料）　　　　

型號(hào)：TOF-M

測(cè)量方法

線(xiàn)規(guī)

測(cè)量對(duì)象鋼板、鋁板等金屬板測(cè)量厚度0.1-0.5 毫米